Real Time Carry Test

Japanese translation: リアルタイム (桁)繰り上げ テスト

GLOSSARY ENTRY (DERIVED FROM QUESTION BELOW)
English term or phrase:Real Time Carry Test
Japanese translation:リアルタイム (桁)繰り上げ テスト

07:34 Aug 16, 2009
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English to Japanese translations [PRO]
Tech/Engineering - Computers: Hardware
English term or phrase: Real Time Carry Test
ハードウェア診断テストに出てくるテスト名です。 

(リアルタイムクロック)
Real Time Carry Test 

(MEMORY2)
All one/zero test

宜しくお願い致します。
Yoshiko Nonaka (X)
Japan
Local time: 23:00
リアルタイム (桁)繰り上げ テスト
Explanation:
メモリのバッファ(変数を置いておく領域)において数字の桁を繰り上げた時に問題が起きるかどうかのテストですね。
基本な所から説明をしてみましょう(ご存知でしたら失礼)
まず、二進法ですと101010で数字をあらわしますが、簡略化するために十進法で説明しますね。
数字の保存方法によって、内部の桁数が設定されています。3ケタあるとしましょう。まず、最初の一桁で正数か負数かを表示します。この場合は1なら+で正数。0なら-で負数って事にします。
そこから2桁で-99(099)から+99(199)までを三桁であらわします。
そこで-99に1を足してみます。変なプログラムミスがあると桁繰り上げで
099(-99)が100(+00)と間違った変化をします。
(-99)+(+1)=(0) 間違ってますね。 

これがバッファオーバーフロー、または繰り上げミスと呼ばれる間違いです。本当はもうちょっと複雑で、計算ミス以外にも問題を起こしますが、桁が足りなかったりすると起きる問題の一例です。

分かりにくかったら申し訳ありません。もっと細かい説明が必要ならば是非お聞きくださいね。



--------------------------------------------------
Note added at 1 hr (2009-08-16 08:59:11 GMT)
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後半の返答を忘れていました。

All one/zero test

『ゼロクリア テスト』 です。
FLASHメモリ系は何万回か書き込むと0か1で固定してしまったりしてしまうのです。これはメモリに全て0と書き込んで初期化するテストです。不安定なメモリは全部0と書き込んでも読み込んだら桁がちゃんと書き込まれず、1のままだった、という状況を診断します。問題個所は検知されたら「使用不可」として警告したりしてくれます。逆に全部「1」で書き込んで「0」に固定された桁を探す、というのもあります。

しかし、ゼロクリア等のメモリテストは前提として「0」と「1」両方を含むので「ゼロクリア」以外の単語は聞いたことが無いんですよね。ワンクリアと考えられますが、実用的な用語じゃないでしょう。この状況では「ゼロクリアテスト」で。もしゼロだけで不安なら「メモリクリアテスト」が候補です。

むしろ、『メモリ状態テスト』としてまとめて色々と読み込みと書き込みテストを稼動するのでゼロクリアという単語もあまり使わなかったり。(余談)

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yonedatransterp
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Summary of answers provided
5 +2リアルタイム (桁)繰り上げ テスト
yonedatransterp
3 +1リアルタイム桁上げ試験
cinefil


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Answers


9 mins   confidence: Answerer confidence 3/5Answerer confidence 3/5 peer agreement (net): +1
real time carry test
リアルタイム桁上げ試験


Explanation:
STOPビットをゼロクリアしたときは、0.5秒後に最初の秒の桁上げが発生します。(以降の桁上げは1秒周期となります。) 初期値を「+0.5秒」とすることで、データ設定時の誤差を ±0.5秒以内にしています。
http://www.epsontoyocom.co.jp/C_support/rtc_FAQ/pages/rtc_fa...


cinefil
Japan
Local time: 23:00
Works in field
Native speaker of: Native in JapaneseJapanese
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agree  Minoru Kuwahara
2 days 2 hrs
  -> ありがとうございます。
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1 hr   confidence: Answerer confidence 5/5 peer agreement (net): +2
real time carry test
リアルタイム (桁)繰り上げ テスト


Explanation:
メモリのバッファ(変数を置いておく領域)において数字の桁を繰り上げた時に問題が起きるかどうかのテストですね。
基本な所から説明をしてみましょう(ご存知でしたら失礼)
まず、二進法ですと101010で数字をあらわしますが、簡略化するために十進法で説明しますね。
数字の保存方法によって、内部の桁数が設定されています。3ケタあるとしましょう。まず、最初の一桁で正数か負数かを表示します。この場合は1なら+で正数。0なら-で負数って事にします。
そこから2桁で-99(099)から+99(199)までを三桁であらわします。
そこで-99に1を足してみます。変なプログラムミスがあると桁繰り上げで
099(-99)が100(+00)と間違った変化をします。
(-99)+(+1)=(0) 間違ってますね。 

これがバッファオーバーフロー、または繰り上げミスと呼ばれる間違いです。本当はもうちょっと複雑で、計算ミス以外にも問題を起こしますが、桁が足りなかったりすると起きる問題の一例です。

分かりにくかったら申し訳ありません。もっと細かい説明が必要ならば是非お聞きくださいね。



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Note added at 1 hr (2009-08-16 08:59:11 GMT)
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後半の返答を忘れていました。

All one/zero test

『ゼロクリア テスト』 です。
FLASHメモリ系は何万回か書き込むと0か1で固定してしまったりしてしまうのです。これはメモリに全て0と書き込んで初期化するテストです。不安定なメモリは全部0と書き込んでも読み込んだら桁がちゃんと書き込まれず、1のままだった、という状況を診断します。問題個所は検知されたら「使用不可」として警告したりしてくれます。逆に全部「1」で書き込んで「0」に固定された桁を探す、というのもあります。

しかし、ゼロクリア等のメモリテストは前提として「0」と「1」両方を含むので「ゼロクリア」以外の単語は聞いたことが無いんですよね。ワンクリアと考えられますが、実用的な用語じゃないでしょう。この状況では「ゼロクリアテスト」で。もしゼロだけで不安なら「メモリクリアテスト」が候補です。

むしろ、『メモリ状態テスト』としてまとめて色々と読み込みと書き込みテストを稼動するのでゼロクリアという単語もあまり使わなかったり。(余談)




    Reference: http://ja.wikipedia.org/wiki/%E7%AE%97%E8%A1%93%E3%82%AA%E3%...
yonedatransterp
Local time: 07:00
Specializes in field
Native speaker of: Native in EnglishEnglish, Native in JapaneseJapanese
PRO pts in category: 4
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Notes to answerer
Asker: 大変わかりやすい説明で、とても役立ちました。 ありがとうございます。


Peer comments on this answer (and responses from the answerer)
agree  Yasutomo Kanazawa: 分かりやすくて良いと思います。
4 hrs
  -> そう言ってもらえると嬉しいです。ありがとうございます。

agree  Minoru Kuwahara: 専門家ではないので詳しいことは分かりませんが、桁数のオーバーフロー現象や全ゼロなどの状況をテストして正常であるかを確認するプロセス、ということでしょうか。訳語的にはおっしゃる通りでよいのかも知れません。-
2 days 1 hr
  -> コメントありがとうございます。Discussionをご参照願います。
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