Tesztelési célokra létesített csatlakozási lehetőség:
„SMD Circuit Probe Pad
...
Avoid damage to sensitive tiny electronic circuits by incorporating these probe pads in the circuitry.”


--------------------------------------------------
Note added at 11 óra (2009-09-23 06:58:23 GMT)
--------------------------------------------------

Félvezetők esetében:
„1. A probe pad on a semiconductor circuit for electric characteristic measurement, wherein the probe pad electrically connects the semiconductor circuit for electriccharacteristic measurement, and an entirety of the probe pad has a mark-shape contour to indicate the relative location of the probe pad on the semiconductor circuit.”
http://www.patentstorm.us/patents/7211904/claims.html



--------------------------------------------------
Note added at 11 óra (2009-09-23 06:59:39 GMT)
--------------------------------------------------

Ez pedig egy mérőcsúcs (probe), melyet a teszt érintkezőre tehetnek:
„SMD mérőcsúcs banán aljzattal fekete (25373FK)”
http://www.kerszolg.online-boltok.hu/index.php?page=shop.pro...



--------------------------------------------------
Note added at 22 óra (2009-09-23 17:55:48 GMT)
--------------------------------------------------

Itt a pad valóban forrszemet jelent (rögzített kötés esetén):
„Forrszem és vezetőszál (pad & track) professzionális javítása”
http://tech-solv.com/index.php?p=1&lang=1